微波性能测试系统
微波性能测试系统
| 仪器名称 | 微波性能测试系统 状态【运行】 |  | |
| 英文名称 | Testing system of microwave properties | ||
| 规格/型号 | */ | ||
| 生产厂商 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | ||
| 国别 | |||
| 性能指标 | 频率范围 ：45MHz～20GHz 频率分辨率：1Hz 测量域：频域、时域 测量点数：1、2、3、51、101、201、401、801、1601 工作温度：10－40℃ 频率准确度：1.0ppm 功率设置范围：－25～0dB 设置分辨率：0.001Db/div 扫描类型：线性频率、对数频率、功率扫描、点频、段扫描 平均因子：1～1024 | ||
| 主要应用 | 对网络参数进行全面测量，既可以测量网络的幅频特性，也可以测量网络的相频特性和群延迟特性。广泛应用于天线和雷达散射截面RCS测量、发射/接受（T/R）模块测量，介质材料特性测量、微波脉冲特性测量、光电特性测量和低温电子测量等领域，是相控阵雷达、精密制导、电子对抗、隐身和反隐身技术、微波通信和卫星等电子系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。 | ||
| 样品要求 | 是否有磁性需要提前告知管理员 | ||
终审：安徽省陶铝新材料产业共性技术研究中心
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