扫描电子显微镜（含能谱仪）
扫描电子显微镜（含能谱仪）
| 仪器名称 | 扫描电子显微镜（含能谱仪） 状态【运行】 |  | |
| 英文名称 | Scanning Electron Microscopy（SEM） | ||
| 规格/型号 | */JSM-6610LV，incax-act | ||
| 生产厂商 | 日本电子株式会，英国牛津 | ||
| 国别 | 日本 | ||
| 性能指标 | 加速电压：0.3kV～30kV 分辨率：3.0nm（30kV）；8.0nm（3kV）；15nm（1kV） 样品台旋转范围：0～360° 放大倍数：5～300，000倍 样品台移动范围：X－Y轴方向为0～100mm；Z轴方向为0～50mm 样品台倾斜范围：－10°～90° | ||
| 主要应用 | 广泛应用于医学、生物学、化工、地质、金属、陶瓷、半导体、纳米材料等各领域。用于纳米材料的形貌与尺寸观察、金属材料断口的分析、材料的原始表面无机及有机材料的成分鉴定、材料表面微区成分的定性和定量分析、材料表面做元素的面、线、点分布分析。 | ||
| 样品要求 | 拒绝接受磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品。 | ||
终审：安徽省陶铝新材料产业共性技术研究中心
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